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簡要描述:玻璃窯爐手持式測(cè)溫儀SH-2200型號(hào):SH-2200品種:紅外線測(cè)溫儀分度號(hào):SH-2200測(cè)量范圍:0-1800(℃)允差等級(jí):I熱響應(yīng)時(shí)間:2(s)聯(lián)接型式:多種可選擇外形尺寸:多種(mm)
產(chǎn)品分類
詳細(xì)介紹
品牌 | 盛達(dá)/ShengDa | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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加工定制 | 是 |
產(chǎn)品圖片 |
玻璃窯爐手持式測(cè)溫儀SH-2200產(chǎn)品概述 | ||||||||||||||
玻璃窯爐手持式測(cè)溫儀SH-2200由紅外光學(xué)鏡頭、濾光片、傳感器和電信號(hào)處理單元、激光器等組成,能夠探測(cè)來自被測(cè)量目標(biāo)的紅外輻射,并根據(jù)其輻射強(qiáng)度確定瞄準(zhǔn)目標(biāo)的溫度。 紅外測(cè)溫儀提供三線制4-20mA電流輸出,可以方便地安裝在多種應(yīng)用場(chǎng)合,特別適合于需要長距離、較強(qiáng)干擾的工業(yè)環(huán)境的安裝。 基本性能 保 護(hù) IP65(NEMA-4) 工作溫度 0-60℃ 存儲(chǔ)溫度 -20-80℃ 相對(duì)濕度 10-90%(不結(jié)露) 外殼材料 銅鍍烙 電纜長度 3m,或定制 電氣參數(shù) 工作電源 12-24VDC zui大負(fù)載 750歐姆(24VDC) 輸出信號(hào) 4-20mA 測(cè)量參數(shù) 光譜范圍 1um 溫度范圍 700-1800℃ 光學(xué)分辨率 100:1 響應(yīng)時(shí)間 30ms(95%) 測(cè)溫精度 ±1% (環(huán)境溫度:23℃±5℃) 重復(fù)精度 ±0.5% (環(huán)境溫度:23℃±5℃) 安 裝 機(jī)械安裝 JTCSG1800金屬殼體帶M27×1.5的螺紋,可用于直接安裝,也可通過使用安裝支架進(jìn)行安裝,可調(diào)安裝支架能夠使測(cè)量頭的調(diào)節(jié)更加方便。 在調(diào)整被測(cè)目標(biāo)與測(cè)量頭時(shí)必須確保光路無遮擋。 電器安裝
測(cè)溫儀外形尺寸 設(shè)備通訊協(xié)議 1.通訊波特率:9600 2.數(shù)據(jù)位:8位 3.停止位:1位 4.效驗(yàn)位:無 5.采用ModBus通訊協(xié)議RTU方式傳送數(shù)據(jù)。 6.通訊數(shù)據(jù)格式 工作原理及注意事項(xiàng) 紅外測(cè)溫原理 任何物體都將根據(jù)其表面溫度向外部發(fā)射紅外輻射,輻射的強(qiáng)度隨物體溫度的變化而變化。針對(duì)目標(biāo)溫度的不同,不同的紅外測(cè)溫儀選擇不同的的測(cè)量波長進(jìn)行溫度測(cè)量。通常采用1um波長,測(cè)量700℃到1800℃的目標(biāo)溫度。非接觸測(cè)溫是紅外測(cè)溫儀zui大的優(yōu)點(diǎn),使用戶可以方便地快速測(cè)量難以接近或移動(dòng)中的物體, 安裝距離與測(cè)量尺寸 SHCSG-1800光學(xué)分辨率是100:1,相應(yīng)的測(cè)量視場(chǎng)可以參照所附光路圖近似計(jì)算。為提高測(cè)量精度,測(cè)量時(shí)應(yīng)保證被測(cè)目標(biāo)的尺寸大于測(cè)量視場(chǎng),特別是當(dāng)目標(biāo)或測(cè)溫儀有晃動(dòng)的現(xiàn)場(chǎng)。 工作環(huán)境 SHCSG-1800用將造成測(cè)量精度下降知道儀器損壞。可以選擇合適的附件改善工作環(huán)境。 測(cè)量通道及鏡頭清潔 應(yīng)保證測(cè)量通道的清潔,灰塵、煙塵都會(huì)影響輻射能量的傳遞,降低測(cè)量精度。測(cè)溫儀光學(xué)鏡頭必須保持清潔,避免因粘有灰塵、煙塵等污染物而導(dǎo)致測(cè)量誤差甚至損壞鏡頭,若鏡頭粘有灰塵。可用清潔的棉簽或鏡頭紙蘸*擦拭。 電磁干擾 為了防止電磁干擾,在安裝時(shí)盡量使紅外測(cè)溫儀遠(yuǎn)離電磁場(chǎng)源(比如電動(dòng)機(jī)、馬達(dá)、大功率電纜等),如有必要可加金屬套管改善屏蔽效果。 注意:傳感頭的屏蔽應(yīng)良好接地。 高溫輻射 在安裝時(shí)盡量避免紅外測(cè)溫儀直接瞄準(zhǔn)遠(yuǎn)超測(cè)量溫度范圍的高溫目標(biāo),如太陽、高溫爐膛等。同時(shí)注意避免高溫源在目標(biāo)附近產(chǎn)生的反射對(duì)測(cè)量精度的影響。 |
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